多晶X射線衍射儀，用于晶體物質結構定性定量分析，用戶可自行設定需要的試驗條件，滿足不同情況試驗需求。

XD6/7系列衍射儀用于晶體物質結構定性定量分析。該產品在XD3基礎上設計，測角儀掃描半徑連續可調。該功能使得用戶可以在儀器測角分辨率和測試衍射線強度之間進行均衡選擇，自行設定需要的試驗條件，滿足不同情況試驗需求。XD6提高了快速轉動速度，從而提高實驗效率。

XD-6/7系列多晶X射線衍射儀用于晶體物質結構定性定量分析。該產品在XD3基礎上設計，測角儀掃描半徑連續可調。該功能使得用戶可以在儀器測角分辨率和測試衍射線強度之間進行均衡選擇，自行設定需要的試驗條件，滿足不同情況試驗需求。XD6提高了快速轉動速度，從而提高實驗效率。

XD6系列衍射儀用于晶體物質結構定性定量分析。該產品在XD3基礎上設計，測角儀掃描半徑連續可調。該功能使得用戶可以在儀器測角分辨率和測試衍射線強度之間進行均衡選擇，自行設定需要的試驗條件，滿足不同情況試驗需求。XD6提高了快速轉動速度，從而提高實驗效率。

XD2/3系列衍射儀用于晶體物質結構定性定量分析。該產品功能齊全，靈活適應各種物質微觀結構的測試、分析和研究。產品采用了θ-θ測角儀立式、中空軸、射線管座與測角臺一體化的結構，可對粉末、大塊不規則固體、液體樣品進行測試。